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AI与高速运算

AI 训练与高速运算对资料处理速度、能源效率与记忆体频宽有极高要求,因此 GPU、TPU、NPU 等芯片普遍采用 高密度先进封装,包含 HBM 堆叠、Chiplet 模组化整合、TSV 穿孔互连与 RDL 重新分布等架构。
这类封装具有 高频、高功率、高热负载 特性,系统运作时会伴随 热传迟不均、封装翘曲、界面疲劳、凸块接合寿命缩短 等风险。若无法及时掌握封装内部结构、热行为与材料互动状况,容易在量产或长期运行阶段出现可靠度问题。

闳康科技在 AI 与高速运算领域的核心能力在于:
能同时建立封装结构真实截面、应力/热行为模型与失效机制对应。
通过 高解析结构重建、封装热行为分析、界面材料追踪与寿命验证,协助客户在研发阶段就预先掌握极限条件下的封装稳定性,降低后段良率损失,并支援产品进入高功率与长时间运算场景。

服务方向 关注重点 适用情境 闳康协助
多晶粒 / Chiplet 封装结构重建 TSV、Micro bump、RDL、HBM 堆叠接合品质 先进封装导入 / 堆叠一致性验证 3DX-Ray、C-SAM、FIB-TEM、层级式结构重建
封装热行为与散热设计评估 热阻分布、热扩散瓶颈、TIM 效能 长期运算、伺服器/AI训练 GPU 高功率场景 IR 热像、TIM 厚度分析、FEM 热模拟、热衰退评估
高频与高速讯号路径可靠度分析 导通界面、互连寿命、应力集中 长期运算、伺服器/AI训练 GPU 高功率场景 FIB-TEM、XPS、焊点疲劳与应力模型回溯
超高功率封装长期寿命与板级验证 翘曲、封装疲劳、焊点寿命衰退 HPC / AI Server 量产与认证需求 FIB-TEM、XPS、焊点疲劳与应力模型回溯
常见问题
Q1. 为什么先进封装内部的缺陷不易被传统 X-ray 检出?
A . 堆叠密度高且材料对比差异小,需更高解析度的三维重建。
Q2. 高功率运算时的热传瓶颈如何确认?
A . 需要同时量测热分布并分析 TIM 与封装内部热阻路径。
Q3. 为什么 Chiplet / HBM 模组容易因应力造成开路或翘曲?
A . 异质材料与多层堆叠会在温度循环中形成应力集中。
Q4. AI 训练环境中,封装寿命如何评估?
A . 需透过高功率运算负载模拟与板级可靠度测试模型。
Q5. 研发阶段是否能用少量样品先做封装可行性评估?
A . 可以,可先进行局部截面与热行为建模,再决定是否扩大验证。
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