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Package Structure

封装结构与外观分析

封装结构与外观是判断制程质量的第一道关卡。透过外观、尺寸与结构量测,可及早发现封装变形、翘曲或结构异常,避免问题进一步扩大。

 

 

Optical Microscope

IC-Testing-3

 

 

Non Contact 3D Surface Profiler

 

Applications 

  • Flatness, surface roughness, step height, deformation and waviness
  • 2-D and 3-D profile
     

Advantages 

  • Accurate, fast and no sample preparation is needed
  • An extremely wide range of surface heights is capable to be profiled. (~180μm)
  • The benefits of optical surface profilometry include
    - Excellent height resolution
    - High measurement speed
    - Ability to perform non-contact measurements of delicate surfaces
     

Surface defects characterization

  •  
      (a) OP;(b) SEM;(c) LED ;(d) Au Bump
  •  
      100 μm Bump Profiler
     
  •  
      20 μm Bump Profile

 

 

SEM Imaging

 

 

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