Material Depth Distribution Map
物质深度分布图
穿透式电子显微镜/X光微区分析，二次离子质谱仪
EM/EDX Line Profile – Blue LED – MQW and Superlattice
在超晶格层的In%可达到0.2at%的鉴定极限
Elemental Depth profile by SIMS
二次离子质谱仪可以有效改善纵深的解析度，闳康科技每日可提供5-10个试样的分析服务
EM/EDX Line Profile – Blue LED – MQW and Superlattice
在超晶格层的In%可达到0.2at%的鉴定极限
Elemental Depth profile by SIMS
二次离子质谱仪可以有效改善纵深的解析度，闳康科技每日可提供5-10个试样的分析服务
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