机台种类
 |
 |
| 图-1 (a)Nano View NVE-10100 | 图-2 (b)Bruker Contour GT |
分析应用
图-3 表面缺陷形貌(a)光学干涉形貌仪影像；(b)二次电子显微镜影像
图-4 (c) 软性印刷电路板之金手指； (d) 光罩上铬金属薄膜图形检测
图-5 金凸块形貌(e) 光学干涉形貌仪影像； (f) 二次电子显微镜影像
图-6 (g) 发光二极体晶粒上金属电极； (h) 薄膜电晶体面板之光阻间隙(Photo spacer)之线上检测
图-7 发光二极体晶粒各层次阶高与尺寸量测
Contact
联络窗口
上海实验室｜EFA / 整合分析
