TDR 时域反射仪

当一个电讯号在某一传输路径传送时，若传输路径中发生阻抗变化，则一部分讯号会被反射，而另一部分讯号会继续沿传输路径传输。

时域反射术(Time Domain Reflectometry，TDR)就是利用这样的特性，藉由送出一个阶梯电压变化之讯号并测量反射讯号的电压幅度,从而计算出阻抗的变化。此外，藉由量测讯号反射点到发射点的时间差，就可计算出传输路径中阻抗变化点的位置。

现今TDR已经成为一种重要的分析技术应用于IC封装的故障定位，此种技术可以搭配其它的分析技术，如超音波扫瞄显微术(Scanning Acoustic Tomography，SAT)及X-光显微术( X-ray microscopy)，进行更精确的故障定位分析。