1. 专利分析鉴定

对先进电子产品的电路布局技术和制程技术来说，专利权的侵权鑑定是高科技公司在保护智慧财产权时必要的手段，它通常关系到索赔时必要的策略性分析咨询，和技术鑑定报告的撰写。闳康科技在此领域有相当丰富经验，并可以直接提供客户这类的分析鑑定服务，也可以和客户指定的法律事务所共同协力合作。

2. 第三者鉴定报告

闳康科技在2004年6月取得 ISO9001 和 IECQ17025 国际认证，是合格的专业分析实验室，在材料分析、电性故障分析、ESD静电测试、和可靠度测试等专业领域，获得国内外客户极高度的肯定。我们优秀的技术团队能对特定的事件进行专业的独立分析，透过完整的验证分析，我们能依 ISO /IECQ 要求的报告格式，出具公正可靠的分析报告，它可以被用来作为任何有关商业责任界定的法律文件。

3. 分析实验室规划与建立

闳康科技可以为客户建构符合实际需求的内部实验室，在接受专案委托之初，提供一个契合企业专业领域应用的实验室规划提案，它包括实验室设备、评估、采购、装机时程规划，技术人员操作训练、和实验室管理课程。

4. 分析技术转移

闳康科技欢迎客户针对特定分析技术的建立，委托技术转移计画，我们将提供一系列教育训练课程，和实际上机操作训练，同时也提供标准操作程序等相关技术文件，作为技术转移的依据。

5. 训练课程

闳康科技为加强提升客户对相关分析技术的了解， 我们提供一系列的训练课程并欢迎客户洽询预约，课程内容大致分为以下几项：

• 材料分析技术简介：内容包含 OM / SEM / FIB / TEM / SIMS / EDX / Auger 等相关材料分析技术介绍。
• TEM样品制备技术：内容包含 Si/TFT/III-V’s 族试片制备， P-V TEM 试片制备， 实作。
• TEM成像及操作原理：内容包含 机台介绍及保养， 基本原理介绍， TEM 影像成像技术， EELS，EDX 成份分析介绍。
• SEM成像及操作原理： 内容包含 机台介绍及保养， 基本原理介绍， TEM 影像成像技术， EDX / WDX / BSE 分析介绍。
• 可靠度测试简介：内容包含 测试机台介绍，测试原理及相关测试标准。
• FIB 分析简介及应用：内容包含 机台原理， 线路修补技术介绍及应用， FIB在故障分析技术上的应用及限制。
• 故障分析技术介绍：内容包含 故障分析机台介绍 (EMMI / OBIRCH / InGaAS / HP4156C / C-AFM...etc)，机台原理， 电性及物性分析技术简介，故障分析流程。 故障分析案件技术探讨。
• 特定产业的应用实例介绍 (IC / TFT / LED / Nano-Materials / Solar Cell / Packaging)