Optical Communication and Silicon Photonics
光通讯与硅光子
光通讯与硅光子技术已成为高速、低延迟资料传输的关键,并广泛应用于资料中心、HPC(高效能运算)、AI 系统、5G 通讯、自动驾驶、消费性电子与生医感测等领域。
硅光子元件透过在硅芯片上整合光学与电子元件,能在更小尺寸下实现更高频宽、更低功耗与更高整合度。特别是共封装光学(CPO, Co-Packaged Optics)技术的导入,使光模组能与交换芯片直接封装,缩短讯号距离、降低能耗并提升整体系统吞吐量。
然而,硅光子元件尺寸微小、界面复杂,光路对位、镀膜厚度、材料堆叠与封装应力 都会影响插入损耗、讯号形变与长期稳定性。
闳康科技提供纳米级结构剖面、光学薄膜参数量测与封装热/应力行为分析,协助客户掌握 光路–材料–封装 的耦合关系,支持产品从设计验证、制程优化到可靠度评估。
| 服务方向 | 关注重点 | 适用情境 | 闳康协助 |
|---|---|---|---|
| 硅光路径与金属结构界面分析 | 波导、耦合器、金属接点结构与材料差异 | 光损耗、耦合效率不足 | FIB-TEM + EDS 截面与元素分佈重建 |
| 光学镀膜厚度与均匀性评估 | 镀膜折射率、厚度、均质性 | 讯号衰减、反射不稳定 | XRR、Ellipsometry 光学参数量测 |
| 雷射模组接点与封装品质观察 | 反射层、镜面对准、封装变形 | 光点偏移、光功率下降 | IR 影像、3DX-Ray、封装剖面对照分析 |
| 封装翘曲与应力行为模拟 | 热膨胀差异、波导位移 | 长期可靠度与光耦合稳定性 | 翘曲/应力模拟 、 结构疲劳评估 |
常见问题
Q1. 为什么硅光路径与金属线路界面容易造成讯号损耗?
A . 材料折射率差异与结构对位不精确会影响光耦合效率。
Q2. 镀膜厚度偏差会如何影响光元件性能?
A . 将改变反射/折射条件,导致插入损耗上升或输出不稳。
Q3. 封装后光点偏移或输出功率降低可能源自什么?
A . 封装翘曲、镜面偏移或应力造成光路变形。
Q4. 硅光子模组能否在研发阶段进行先期风险评估?
A . 可以,封装-光路耦合模型可提前确认设计裕量。