XRF X射线萤光分析仪

XRF是使用高能量X光或伽玛射线照射样品，使样品组成原子之内层轨域电子被激发成带能量之光电子，使内层轨域产生一个空洞，外层电子会填补内层空缺的电子位置，由于能阶之间的能量差而发射出特性X光，称为X光萤光（X-ray Fluorescence，XRF）。

不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性，检测器（Detector）接受这些X光，再由仪器软体系统将其转为对应的信号；可用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属、玻璃、陶瓷和建筑材料，以及地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EU RoHS）和考古学等领域。

可携式X射线萤光分析仪具有手持的便利优势，可于现场进行快速检测，对于昂贵或不易搬运的样品，因考量其经济性和安全性，即非常适合使用；可应用于机场检查或反恐安全扫描、产品的真伪检测、环境探勘、法规要求的材料规格、即时品质管制检测等。

• 快速测量微小区域中的微量金属或薄膜
• RoHS检测模式具形状大小、厚度、位置补正功能，提升量测准确度
• 自动判别选取标准曲线功能
• 提供塑料专用软体，可排除因样品尺寸、厚度、形状、放置位置或与侦测器相对位置等差异所造成之误差
• 内建无卤规范之Br、Cl 标准检量线，可精确定量
• 提供样品元素自动图谱自动定性、定量元素分析
• 可于十秒完成对 0.2mm x 0.2mm 面积中之 Au/Ni/Cu（金/镍/铜）等薄膜多镀层的镀层厚度测量