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可靠度测验
04.28
2025

闳康创建功率元件完整性的验证服务模式

电源相关的功率元件(SiC、GaN)的高压与高频特性,在电动车中占据了举足经重的角色。由于功率元件在电动车的关键性角色,众多公司看准此一趋势,纷纷投入功率元件研究与发展。

可靠度测验
闳康创建功率元件完整性的验证服务模式
合作专栏
03.14
2025

铜混合接合技术的创新突破:三维积体电路与先进封装的关键技术

3D IC技术的发展如同堆叠「乐高积木」,将具备不同功能的芯片垂直整合,不仅节省空间,更显着提升整体系统效能,为突破摩尔定律带来新可能!然而,要让这些「积木」芯片间能精准对位、稳定通讯、有效散热、不易短路或老化,关键就在于「怎么接起来」。

合作专栏
铜混合接合技术的创新突破:三维积体电路与先进封装的关键技术
合作专栏
02.26
2025

硅光子技术促进先进高效能计算

面对 AI 与 HPC 系统的巨量运算需求,硅光子技术如何透过光连接技术提升资料中心与芯片间传输速率、降低功耗,为下一代高效能运算架构提供关键路径。

合作专栏
硅光子技术促进先进高效能计算
合作专栏
02.12
2025

次世代储能技术:先进锂硫电池

锂硫电池(Li-S Battery) 被视为下一代电池技术的重要突破,随着锂离子电池逐渐接近技术极限,锂硫电池凭藉「高能量密度、低成本、环保轻量」等优势,在电动车、航太与无人机、或是需大规模储能的智能电网等领域展现了强大的应用潜力,正迅速成为全球研发焦点!

合作专栏
次世代储能技术:先进锂硫电池
合作专栏
01.03
2025

二维半导体的新战场:硒氧化铋晶体管

随着硅基晶体管微缩逼近物理极限,二维半导体材料如硒氧化铋因其高载流子迁移率、原生氧化层优势与大面积成长潜力,正成为后硅世代晶体管的新候选。

合作专栏
二维半导体的新战场:硒氧化铋晶体管
故障分析
10.18
2024

AI芯片内嵌最重要的内存-静态随机存取内存SRAM先进工艺结构检测分析

在这么复杂IC电路中,AI芯片最重的内嵌内存就是SRAM(Static Random-Access Memory,静态随机存取内存或称静态随机存储器)。这种内嵌的SRAM,也被称作嵌入式SRAM。

故障分析
AI芯片内嵌最重要的内存-静态随机存取内存SRAM先进工艺结构检测分析
材料分析
09.20
2024

晶体结构在半导体中扮演的角色与X光绕射的分析应用

随着科技进步,先进工艺的发展,电子产品越做越小,半导体组件尺寸已接近材料的物理极限。为了达到次世代电子产品的需求,如:体积小、功能性多、指令周期快及低功耗等特性,并要规避组件尺寸的物理极限,超越摩尔定律成为目前半导体产业努力研究的目标。

材料分析
晶体结构在半导体中扮演的角色与X光绕射的分析应用
合作专栏
08.02
2024

扫描式电子显微镜分析技术的发展 - 以宽能隙半导体的外延缺陷分析为例

本文的讨论主要聚焦于具有六方结构的几种宽能隙半导体,如氮化镓(GaN,Eg=3.4 eV)、氮化铝(AlN, Eg=6.2 eV)、氧化锌(ZnO, Eg=3.3 eV)和碳化硅(4HSiC/6H-SiC, Eg=2.8-3.2 eV)。这些宽能隙半导体,特别是氮化镓、氮化铝和氧化锌,已经广泛应用于表面声波组件、紫外光与蓝光的侦测器、发光二极管和激光二极管。

合作专栏
扫描式电子显微镜分析技术的发展 - 以宽能隙半导体的外延缺陷分析为例
合作专栏
07.01
2024

二次离子质谱仪(SIMS)于集成电路工艺质量监控的分析应用

顶尖的半导体应用芯片除了需要优异的IC电路设计外, 更需要完美的纳米组件结构搭配以新世代或先进的半导体工艺技术, 以达到芯片最佳的性能表现。

合作专栏
二次离子质谱仪(SIMS)于集成电路工艺质量监控的分析应用
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