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Package Structure

封装结构与外观分析

封装结构与外观是判断制程品质的第一道关卡。透过外观、尺寸与结构量测,可及早发现封装变形、翘曲或结构异常,避免问题进一步扩大。

 

Optical Microscope

 

IC-Testing-3

 

Non Contact 3D Surface Profiler

 

Applications 

  • Flatness, surface roughness, step height, deformation and waviness
  • 2-D and 3-D profile

 

Advantages 

  • Accurate, fast and no sample preparation is needed
  • An extremely wide range of surface heights is capable to be profiled. (~180μm)
  • The benefits of optical surface profilometry include
    - Excellent height resolution
    - High measurement speed
    - Ability to perform non-contact measurements of delicate surfaces

 

Surface defects characterization

  • (a) OP;(b) SEM;(c) LED ;(d) Au Bump

  • 100 μm Bump Profiler

  • 20 μm Bump Profile

SEM Imaging

 

 

线上报名
01.01
1970
本次 MAFT 研讨会以「创新器件 & 封装」为核心主题,邀请专家学者们,聚焦超晶格铁电存储器、硅光子、6G高频EMI封装与量子计算等前瞻议题,带领与会者深入掌握下一世代半导体技术发展脉络。
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