功率元件可靠度试验
由于智能车 (ADAS: Advanced Driver Assistance System) 的发展趋势造就了汽车电子的市场蓬勃发展。然而在环保意识抬头下,也造就了电动车慢慢取代了燃油车,车辆产业从燃油车转变成电动车生产已然成为世界趋势。在电动车特性下电源供应俨然成为整个汽车设计核心。所以电动车控制板上的高功率元件就占有举足轻重的角色,而高功率元件最具代表性就是最近常谈IGBT与MOSFET元件。
功率元件可靠度试验(Component Level Reliability Service),是用来验证功率半导体元件在长时间、高应力操作条件下,其电性、结构与材料是否能维持稳定与安全运作的一系列测试流程,试验主要针对 IGBT、MOSFET 等高功率元件,模拟其在实际应用中可能遭遇的高温、高湿、高电压、高电流、频繁切换与机械应力等严苛环境,藉此提早找出潜在失效风险。
在电动车与车用电子系统中,电源供应、功率转换与能量管理模组需长时间承受高电压、高电流、高温与频繁开关操作,其设计核心仰赖 IGBT 与 MOSFET 等功率元件的稳定运作。一旦功率元件发生失效,轻则造成系统降额(Derating),重则导致整车功能异常甚至安全风,因此功率元件可靠度试验 已成为车用电子、工业电源与高功率应用中不可或缺的验证流程。闳康科技以完整的环境应力、寿命模拟与电性验证能力,协助客户在产品开发与量产前,即可全面掌握功率元件的可靠度表现与失效风险,为车用与高功率应用打造更安全、更稳定的解决方案。
功率元件可靠度验证主要有三个领域,包含环境应力试验、加速寿命模拟试验、电性验证等领域。闳康科技提供了全方位的功率器件验证服务,验证服务内容如下:
环境应力试验主要用来模拟功率元件在制造、封装、运输与实际操作环境中,可能遭遇的温度、湿度与机械应力条件,透过加速方式,提早暴露材料、封装或结构上的潜在弱点,可有效评估功率元件在严苛车用与工业环境中的结构稳定性,常见测试项目包括:
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前处理试验(Preconditioning, PC):模拟回焊与湿气暴露条件
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高加速温湿度试验(Autoclave, AC / UHAST):评估封装耐湿与界面可靠度
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温度循环试验(Temperature Cycling, TC):验证焊点与材料热疲劳行为
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端子强度试验(Terminal Strength, TS):确认端子与封装机械强度
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焊锡耐热试验(Resistance to Solder Heat, RSH)
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热阻测试(Thermal Resistance, TR):评估功率元件散热效率
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沾锡性试验(Solderability, SD)
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锡须成长评估(Whisker Growth Evaluation, WG)
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恒加速试验(Constant Acceleration, CA)
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变频振动试验(Vibration Variable Frequency, VVF)
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机械冲击试验(Mechanical Shock, MS)
加速寿命试验是功率元件可靠度验证的核心项目之一,适用于 IGBT、MOSFET 在逆变器、车载电源模组等高功率应用情,透过 高温、高湿与偏压条件,模拟元件在长时间操作下的老化与失效行为,闳康科技可依据元件特性与应用情境,规划合适的寿命试验条件,常见项目包含:
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高温高湿逆向偏压试验(H3TRB):评估湿气与电场交互作用造成的劣化
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间歇操作寿命试验(Intermittent Operational Life, IOL)
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电源温度循环试验(Power Temperature Cycling):模拟实际通断负载情境
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高温反向偏压试验(HTRB):评估结构与接面长期耐压能力
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高温闸极偏压试验(HTGB):确认闸极氧化层与介电可靠度
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功率循环试验(Power Cycling, PCsec / PCmin):模拟反复功率切换与热应力累积效应
电性验证用以确认功率元件在试验前后之电性参数稳定性,并搭配特殊电性测试评估其耐受极限与失效模式,包含:
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试验前后电性测试(Pre- / Post-Stress Electrical Test)
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MOSFET:BVDSS、IDSS、IGSS、RDS(ON)、Gfs(如适用)、VGS(th) / VGS(OFF)
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IGBT:BVCES、ICES、IGES、VCE(SAT)、hFE、VGE(th)
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进阶电性与可靠度验证
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参数验证(Parametric Verification, PV)
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静电放电测试:HBM / CDM
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雪崩耐受测试(Unclamped Inductive Switching, UIS)
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短路特性测试(Short Circuit Characterization, SC)
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介电完整性测试(Dielectric Integrity, DI)
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MCC HPB6
MCC HPB6
- Handle devices up to 1000 watts
- Water-cooled and high-force for individual temperature control per device
- 16 independent board slots
- 128 digital I/O channels + 128 output-only channel
- 24 high-power individually programable power supplies
(250W, 175A, 0.3V to 1.8V) per board
- 24 low-power individually programable power supplies
(60W, 15A, 0.3V to 4.0V) per board
- 64M standard and 128M optional parallel vector depth – subroutine capable
- 8 programmable high-frequency clocks,up to 350 MHz – LVDS to the BIB

INCAL SONOMA
- Handle devices up to 800 watts
- Liquid to Air heat exchanger for cabinet cooling
- Liquid to Liquid heat exchange for DUT Temp control
- Water-cooled and chilling for individual temperature control per device
- Up to 88 DUTs
- 128 digital I/O channels
- 8 Core Power supplies 0.5V to 3.3V/200A
- 8 Power Supplies 5V/12A
- 4 Quad Core 4 x 2V/40A
- 32 ADC channels
- Unlimited Vector Memory at 27M Burst