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LED Surface Analysis

LED 表面形貌与制程分析

LED 芯片的表面结构与制程品质,会直接影响元件的光输出效率、散热能力与整体可靠度。在 LED 磊晶成长、蚀刻与表面粗化等制程过程中,若表面形貌或微结构出现异常,可能导致发光效率下降、光学分布不均或元件性能不稳定。

 

表面型态

 

光学干涉形貌仪

 

扫描式电子显微镜 

 

LED-11

扫描式电子显微镜俯视图;LED晶粒表面粗化观察

 

 

芯片结构及薄膜厚度

 

扫描式电子显微镜

 

双粒子束断层扫描

 

LED-14

 双粒子束断层扫描精密纵切面图

 

穿透式电子显微镜

  • 穿透式电子显微镜纵切面图
  • (a)MQW and super lattice;(b)HR TEM of MQW;(c)PSS and buffer layer
线上报名
01.01
1970
本次 MAFT 研讨会以「创新器件 & 封装」为核心主题,邀请专家学者们,聚焦超晶格铁电存储器、硅光子、6G高频EMI封装与量子计算等前瞻议题,带领与会者深入掌握下一世代半导体技术发展脉络。
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